季丰设备GF Equipment

支持多种规格芯片的老化可靠性测
试，兼容当前主流老化板

• 支持多种规格芯片的老化可靠性测试
• 2个温区，可支持32块老化板同时测试
• 向量深度为16M，支持向量失效判断
• 信号最高频率20MHz
• 支持多点电压电流监控与保护

为存储芯片提供全自动的可
靠性老化测试和失效分析

• 支持存储芯片的可靠性老化测试
• 支持芯片失效位置判断
• 提供全面的失效分析报告
• 提供自动化的Pattern生成工具

实现多达千路级的电压电流监控记录，数据后期分析

• 电流精度达微安
• 最大监控电流100A
• 最大监控电压30V
• 支持温度范围-40~125度

广泛用于RF PA和RF
Switch等IC的HTOL实验，
可以给RF产品老化试验提
供外部射频源激励

• 输出功率-10~17dBm
• 输出频率 60~6000MHz
• 单路可调

辐射下SER软失效验证系统，Turn-Key方案

• 可支持的辐射类型：中子源、质
  子源、α粒子源、β源、γ射线源
• 支持远程软件控制、结果显示、
  支持高强度核辐射人体安全远
  距离通信模式

支持对输入的800M~2.5GHz射频
信号进行放大，饱和输出功率可
以达到40dBm的RF信号输出，可
用于验证射频芯片的可靠性

• 支持全通道同时满功率输出
• 各通道可同时输出不同频率、不同功率的射频信号
• 每条通道自带保护，异常时自动断开
• 模块化设计，易于组合通道数量

• 8路ADC，最大速率可达
  5GSPS；8路DAC，最大速率
  可达9.85GSPS
• 核心板包含PS/PL DDR、
  EMMC、FLASH及多路供电
  等，可直接安插在自研开发
  板上，缩短开发周期
• 套件底板包含射频接口、USB、网口、SATA、DP等，可快
  速验证基本功能和接口，测试AD/DA指标
• 季丰提供SDK套件，包括petaLinux、CLK generator控制、Verilog代码等

采用4端子测试法，在高低温循环等条
件下，对焊接部分、连接器的连接部分
的微小电阻值的变化情况，连续监测并
自动数据处理来评估焊点或者连接的
可靠性评估

• 120，240,480通道三种规格可选
• 4线电阻测试
• 采样精度1uΩ自动监控和数据记录软件
• 高效、准确地进行连接部分/焊接的可靠性评估

对射频信号进行放大，提供高达29dBm的射频信号

• 输出频率 880MHz~2.5GHz
• 最大输出功率 29dBm @ 2.3GHz(B40)

可在高低温环境下独立工作的全能
型控制板

• 支持JTAG、SPI、UART等多种控制协议
• 支持Pattern保存，上电自动运行
• 工作温度-40~125度